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HCDN-501 射頻導納物位計
射頻導納測量技術是具有獨特優(yōu)勢的物位測量技術,當液位計探頭安裝在容器中時構成了一個電容器,探頭(測量電極)作為電容器的一個極板,容器作為電容器的另一個極板(若容器為絕緣材料,應加入一參考電極),當物位上升時,兩極板間介電性的變化而引起電容量發(fā)生改變,這一變化將引起作用于射頻導納開關探頭的無線電波的變化,射頻導納物位計通過射頻電路檢測到這種無線電波的變化量并轉換成線性電流輸出。
HCDN-502 射頻導納物位計
射頻導納測量技術是具有獨特優(yōu)勢的物位測量技術,當液位計探頭安裝在容器中時構成了一個電容器,探頭(測量電極)作為電容器的一個極板,容器作為電容器的另一個極板(若容器為絕緣材料,應加入一參考電極),當物位上升時,兩極板間介電性的變化而引起電容量發(fā)生改變,這一變化將引起作用于射頻導納開關探頭的無線電波的變化,射頻導納物位計通過射頻電路檢測到這種無線電波的變化量并轉換成線性電流輸出。
HCDN-503 射頻導納物位計
射頻導納測量技術是具有獨特優(yōu)勢的物位測量技術,當液位計探頭安裝在容器中時構成了一個電容器,探頭(測量電極)作為電容器的一個極板,容器作為電容器的另一個極板(若容器為絕緣材料,應加入一參考電極),當物位上升時,兩極板間介電性的變化而引起電容量發(fā)生改變,這一變化將引起作用于射頻導納開關探頭的無線電波的變化,射頻導納物位計通過射頻電路檢測到這種無線電波的變化量并轉換成線性電流輸出。
HCDN-504 射頻導納物位計
射頻導納測量技術是具有獨特優(yōu)勢的物位測量技術,當液位計探頭安裝在容器中時構成了一個電容器,探頭(測量電極)作為電容器的一個極板,容器作為電容器的另一個極板(若容器為絕緣材料,應加入一參考電極),當物位上升時,兩極板間介電性的變化而引起電容量發(fā)生改變,這一變化將引起作用于射頻導納開關探頭的無線電波的變化,射頻導納物位計通過射頻電路檢測到這種無線電波的變化量并轉換成線性電流輸出。
HCSP-30 射頻導納料位開關
射頻導納料位開關,是基于射頻導納原理的料位限制開關,模塊化設計,經濟實用。可以測量多種介質,可應用在多種場合。
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